Voltar


ANÁLISE DE SUPERFÍCIES (XPS, UPS, AES, LEIS)

Sistema para análise de superfícies com analisador hemisférico de elétrons Phoibos150 podendo realizar medidas pelas técnicas de Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios x (XPS) e por raios UV (UPS), espectroscopia AUGER (AES) e de íons de baixa energia (LEIS e Difração de elétrons de baixa energia (LEED).

O sistema é composto de um analisador de elétrons Phoibos 150, canhão de raios x com feixe de Al (1486,6 eV) e Mg (1286,6 eV), canhão de raios x monocromático com feixe de Al (1486,6 eV) e prata (2984 eV), lâmpada UV uSírius, canhão de elétrons com energia entre 100 ev-5000 ev), canhão de íons e difratômetro de elétrons de baixa energia.

Regimento para uso dos equipamentos multiusuários.

Comitê Gestor

  • Dr. Marcelo Eduardo H. Maia da Costa
  • Dr. Fernando Lázaro Freire Junior
  • Dra. Suellen Dayenn Tozetti de Barros
  • Dr. Jefferson Ferraz Damasceno Félix Junior

Solicitação de serviço

Enviando sua solicitação. Por favor, aguarde...
Sua solicitação foi enviada com sucesso! Entraremos em contato em breve.
Ocorreu um erro ao enviar sua solicitação. Por favor, tente novamente mais tarde.

E-mail para contato: multiusuario@vdg.fis.puc-rio.br